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1. ¹ÝµµÃ¼ Å×½ºÆ® Àåºñ °³¹ß, »ý»ê, ÆǸÅ
   - Memory Test Systems ¹× Device Interface
   - SOC Test Systems
   - SOC Test Handler

2. ¹ÝµµÃ¼ Ư¼ººÐ¼® ¹× ºÒ·® ºÐ¼® Àåºñ
   - Focused lon Beam Circuit Edit
   - Emission Microscopy EFA Àåºñ
   - Time-based Emission Scope

3. ¹ÝµµÃ¼ Surface Particle Counter
   - Qlll+
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