HOME  |  ȸ¿ø°¡ÀÔ  |  °øÁö»çÇ×  |  °í°´¼¾ÅÍ  |  FAQ

  ¿¬±¸°³¹ß   ±â¼ú¿µ¾÷   »ý»ê°ü¸®   ³×Æ®¿öÅ©   ¸ð¹ÙÀÏ   ÇÁ·Î±×·¡¸Ó
 
°³ÀÎ ±â¾÷ ½áÄ¡Æß
 
 
 
 
  ȸ¿ø°¡ÀÔ
  ¾ÆÀ̵ð/ºñ¹Ð¹øÈ£ ã±â

¤ýÀüü ä¿ëÁ¤º¸
¤ý±â¾÷Çüź° ä¿ëÁ¤º¸
¤ý¾÷Á÷Á¾º° ä¿ëÁ¤º¸
¤ýÁö¿ªº° ä¿ëÁ¤º¸
¢ß³×¿À¼À
 
   ±â¾÷¸í  ¢ß³×¿À¼À   ´ëÇ¥ÀÚ¸í  ¿°µ¿Çö
   ¾÷Á¾  Á¦Á¶¾÷(ÀüÀÚ/Àü±â/¹ÝµµÃ¼/µð½ºÇ÷¹ÀÌ)   ÀÚº»±Ý  8¾ï 5000¸¸¿ø
   ¸ÅÃâ¾×  224¾ï   »ç¿ø¼ö  84¸í
   ¼³¸³³âµµ  2002³â   »óÀå¿©ºÎ  ºñ»óÀå
   ±â¾÷ÇüÅ  Áß¼Ò±â¾÷(300¸íÀÌÇÏ)   ÀüÈ­¹øÈ£  ºñ°ø°³
   Æѽº¹øÈ£  ºñ°ø°³   À̸ÞÀÏ  ºñ°ø°³
   ÁÖ¿ä»ç¾÷  ¹ÝµµÃ¼ Å×½ºÆ® Àåºñ ¿£Áö´Ï¾î¸µ/Á¦Á¶
   ȨÆäÀÌÁö  http://www.neosem.com
   ÁÖ¼Ò  (443824) °æ±â ¼ö¿ø½Ã ¿µÅ뱸 ¿øõµ¿ 471¹øÁö »ï¼ºÅ×Å©³ëÆÄÅ© 701È£
 
   ±â¾÷°³¿ä ºñÀü   
¢ß³×¿À¼ÀÀº ¹ÝµµÃ¼ Test ¹× Engineering Ư¼ººÐ¼® ¹× ºÒ·®ºÐ¼®¿¡ ÇÊ¿äÇÑ Àåºñ ¹× ¼­ºñ½º¿¡ ´ëÇÑ ÅäÅ» ¼Ö·ç¼Ç (Total Solution)À» Á¦°øÇÏ´Â Àü¹® ¾÷üÀÔ´Ï´Ù.

³×¿À¼ÀÀÇ ÁøÁ¤ÇÑ °¡Ä¡´Â °í°´À¸·ÎºÎÅÍ ³ª¿À±â ¶§¹®¿¡, °í°´°ú ÇÔ²² »ó»óÇÏ°í, °í°´À» ÀÌÇØÇÏ¿©, °í°´¿¡ ¸Â´Â, Á¦Ç°°ú ¼­ºñ½º¸¦ Á¦°øÇÏ¿© µå¸± ¼ö ÀÖµµ·Ï Àü ÀÓÁ÷¿øÀÌ ³ë·ÂÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.



[ÁÖ¿ä»ç¾÷]
1. ¹ÝµµÃ¼ Å×½ºÆ® Àåºñ °³¹ß, »ý»ê, ÆǸÅ
   - Memory Test Systems ¹× Device Interface
   - SOC Test Systems
   - SOC Test Handler

2. ¹ÝµµÃ¼ Ư¼ººÐ¼® ¹× ºÒ·® ºÐ¼® Àåºñ
   - Focused lon Beam Circuit Edit
   - Emission Microscopy EFA Àåºñ
   - Time-based Emission Scope

3. ¹ÝµµÃ¼ Surface Particle Counter
   - Qlll+
 
   ¿¬Çõ ¹× ½ÇÀû   
2013. 09     Ãë¾÷ÇÏ°í ½ÍÀº ±â¾÷ ¼±Á¤
2012. 06     À¸¶ä Áß¼Ò±â¾÷ ¼±Á¤
2012. 05     ±Û·Î¹ú °­¼Ò±â¾÷ ¼±Á¤
2009. 12     ºÎÇ°.¼ÒÀç Àü¹®±â¾÷ ÀÎÁõ
2008. 05. º¥Ã³±â¾÷ ÀÎÁõ
2008. 02. ±â¼úÇõ½ÅÇü Áß¼Ò±â¾÷ (INNO-BIZ) ÀÎÁõ
2007. 12. ISO 9001:2000 ÀÎÁõ 2002. 4.
2007. 11. ÁÖ) ³×¿À¼À ºÎ¼³¿¬±¸¼Ò ¼³¸³ Àΰ¡ (»ê¾÷±â¼úÆò°¡¿ø)
2007. 09. ¹Ì±¹ Tanisys Technology»ç Àü·«Àû Àμö Âü¿©
2007. 08 ÇÏÀ̴нº ¹ÝµµÃ¼¿Í NAND Test Àåºñ °øµ¿°³¹ß Çù¾à
2002. 04. ³×¿À¼À ¼³¸³
   ÁøÇàÁßÀΠä¿ëÁ¤º¸  
µî·ÏÀÏ ±â¾÷¸í ä¿ë°ø°í ¸¶°¨ÀÏ Áö¿ª °æ·Â
 2014-04-07  ¢ß³×¿À¼À   ¹ÝµµÃ¼ Å×½ºÆ® Àåºñ application °³¹ß  Ã¤¿ë½Ã¸¶°¨ °æ±â 5³â
  ¢¸  [1] ¢º    
  

Copyright ¨Ï ½ºÄ«¿ìÆ®ÇÇÇà All rights reserved.