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(ÁÖ)Á¦ÁֹݵµÃ¼´Â ¸ð¹ÙÀÏ ¸Þ¸ð¸® ¹ÝµµÃ¼ÀÇ ¼³°è, Á¦Á¶¸¦ Àü¹®À¸·Î ÇÏ´Â ¹ÝµµÃ¼ ÆÕ¸®½º ȸ»çÀÔ´Ï´Ù. ÁÖ¿ä Á¦Ç°À¸·Î´Â Nand MCP, CRAM, SRAM, DRAM µîÀÌ ÀÖÀ¸¸ç dzºÎÇÑ °æÇèÀ» º¸À¯ÇÑ µ¿Á¾¾÷°è ÃÖ°í ¼öÁØÀÇ °³¹ßÀη°ú Áö¼ÓÀûÀ¸·Î º¯ÈÇÏ´Â °í°´¿ä±¸¿¡ Àû±â ´ëÀÀÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ±â¼ú °æÀï·ÂÀ» ÅëÇØ Áö¼ÓÀûÀÎ ¼ºÀå°ú ¹ßÀüÀ» Ãß±¸ÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
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2022-06-24 |
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¸ðÁý ºÎ¹® Memory Á¦Ç° Test Engineer ¤ýDram Á¦Ç°±º (ƯÈ÷, LPDDR4/DDR4) ¤ýNand Flash Á¦Ç°±º ´ã´ç ¾÷¹« ¤ýMemory Test Program Setup ¹× Debug ¤ýDesign Verification ¤ýFailure Analysis ¹× Test Data Control ¤ýMass Production Set-up & Test Productivity Improvement ¤ýLesson Learn Test Item ±¸Çö ÀÚ°Ý¿ä°Ç ¤ý°æ·Â : °æ·Â 3³â ÀÌ»ó ¤ý´ëÇÐ(¿ø) Á¹¾÷ÀÚ ¤ýÀü±â, ÀüÀÚ, ¹°¸®, ¹ÝµµÃ¼ °øÇÐ Àü°øÀÚ ¤ýAdvantest Tester »ç¿ëÀÚ ¿ì´ë ¤ýÇØ¿Ü ÃâÀå¿¡ °á°Ý»çÀ¯ ¾ø´Â ÀÚ ¤ýº´¿ª ÇÊ ¶Ç´Â ¸éÁ¦ÀÚ(ÇØ´ç½Ã) |
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ÀüÇüÀýÂ÷ ¤ý¼·ùÀüÇü > ¸éÁ¢ÀüÇü > °Ç°°ËÁø > ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý ¤ý¼·ùÀüÇü : ´ç»ç Áö¿øÇϱâ ÆäÀÌÁö ³» ¼ÒÁ¤ÀÇ ÀÔ»çÁö¿ø¼(¿Â¶óÀÎ ÀÔ»ç Áö¿ø), À̷¼ ÆÄÀϸíÀº ¹Ýµå½Ã "Áö¿ø±¸ºÐ_°æ·Â_À̸§"À¸·Î ÀÛ¼ºÇÏ¿© Á¦Ãâ¹Ù¶ø´Ï´Ù. (¿¹½Ã : PE_°æ·Â_È«±æµ¿) |
À¯ÀÇ»çÇ× ¤ýÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ¹ß°ßµÉ °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. |
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°¢Á¾ °æÁ¶±Ý Áö¿ø, Àå±â±Ù¼ÓÀÚ Æ÷»ó, ±â³ä¼±¹° Áö±Þ, º¸À°¼ö´ç, ¹®È»ýÈ°ºñ Áö±Þ
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