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(ÁÖ)¿¥¿£Æ¼´Â 2003³â 11¿ù 03ÀÏ ¼³¸³µÈ ¹ÝµµÃ¼ ÀåºñÁ¦Á¶ ¾÷ü·Î, ºñ¸Þ¸ð¸® ¹ÝµµÃ¼ »ý»ê¶óÀÎÀÇ Àü,ÈÄ °øÁ¤¿¡ ÅõÀԵǾî DISCRETEÀÎ TRANSISTOR, GULATOR Àº ¹°·Ð L-IC ĨÀÎ ¹Î»ý¿ë¿¡¼­ ºÎÅÍ »ê¾÷¿ë,±º»ç¿ë ¹ÝµµÃ¼ DEVICE,PDP IPM¿¡ À̸£±â ±îÁö DEVICEÀÇ ±â´ÉÀ» ÃÊ°í¼ÓÀ¸·Î °Ë»çÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ÀüÀÚµ¿°Ë»çÀåºñ,Áï ATE( AUTOMATIC TEST EQUIPMENT )¸¦ ÀÚü±â¼ú·Î ¿¬±¸°³¹ßÇÏ¿© »ý»ê,ÆǸÅÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù. ¶ÇÇÑ Å×½ºÆ® ¼³ºñ ¹× TEST APPLICATION ( H/W, S/W )¸¦ ¸ðµÎ Áö¿ø ÇÔ¿¡ µû¶ó TOTAL SOLUTION üÁ¦°¡ ±¸ÃàµÇ¾î ÀÖ¾îÇâÈÄ¿¡´Â TEST HOUSE»ç¾÷¿¡µµ ÁøÃâÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï ¸ÅÁøÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.

´Ù³â°£ÀÇ °³¹ß ¹× »ý»ê KNOW-HOW¸¦ °¡Áø ¿£Áö´Ï¾îµé·Î ±¸¼ºµÈ ´ç»ç´Â ÃàÀûµÈ ±â¼ú°ú ±¹³»¿Ü À¯¼öÀÇ ±â¾÷À¸·ÎºÎÅÍ ¹ÞÀº Ç°Áú¿¡ ´ëÇÑ ½Å·Ú¸¦ ¹ÙÅÁÀ¸·Î ±¹³» ¹ÝµµÃ¼ °Ë»çÀåºñ ºÎ¹®À» ¼±µµÇÔ°ú µ¿½Ã¿¡ ²÷ÀÓ¾ø´Â ±â¼úÇõ½Å¿¡¾ÕÀå¼­¼­ ¹«ÇÑ°æÀïÀÇ Ä¡¿­ÇÑ °æ¿µÈ¯°æ¼Ó¿¡¼­µµ ±â¼ú¿¡ °¡Ä¡¸¦ ºÎ°¡ÇÔ°ú ¾Æ¿ï·¯ ÃÊ¿ì·® ±â¾÷À¸·Î Ç×»ó º¯È­ÇÏ´Â ¼¼°èÀûÀÎ ±â¾÷ÀÌ µÇ°íÀÚÇÕ´Ï´Ù.

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2003.11.03 ÁÖ½Äȸ»ç ¿¥¿£Æ¼(´ëÇ¥ÀÌ»ç ¹èÈ¿¹ü) ¼³¸³ – ³³ÀÔÀÚº»±Ý 3¾ï¿ø
2003.11.15 KST¢ß ´ë¸®Á¡°è¾à – Áß±¹½ÃÀåÆǷΰ³Ã´
2003.12.02 °øÀåµî·Ï - ±ºÆ÷½Ãû(ºÐ·ù¹øÈ£: 33213)
2003.12.15 GFC¢ß ´ë¸®Á¡°è¾à – ÀϺ», µ¿³²¾Æ½ÃÀå ÆǷΰ³Ã´
2004.02.05 ÆÄ¿ö¸ðµâÀÇ Å×½ºÆ®ÀåÄ¡ ƯÇãÃâ¿ø (Á¦2004-07536È£)
2004.02.20 Å©¸®½ºÅ»Å×Å©³î·ÎÁö¢ß ´ë¸®Á¡°è¾à - SANYO¢ß ÆǷΰ³Ã´
2004.03.11 ±â¾÷ºÎ¼³¿¬±¸¼Ò ¼³¸³ (Á¦20041183È£)
2004.04.01 ±â¼úÇõ½Å°³¹ß»ç¾÷¼±Á¤(Power Module ¹× IPM ´Ù±â´É Tester)
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2004.05.10 ÀÚº»±Ý 2¾ï ÁõÀÚ(Ãѳ³ÀÔÀÚº»±Ý 5¾ï)
2004.05.17 ÆÄ¿ö¸ðµâÀÇ Å×½ºÆ®ÀåÄ¡ ½Ç¿ë½Å¾Èµî·Ï (µî·ÏÁ¦ 0351562È£)
2004.08.08 º¥Ã³±â¾÷È®Àεî·Ï(Á¦041624021-1-00618È£)
2005.03.18 ISO9001 ÀÎÁõ Ãëµæ - ±¹Á¦Ç¥ÁØÀÎÁõ¿ø
2005.11.28 ±â¼úÇõ½Å°³¹ß»ç¾÷¼±Á¤(Power Module ¹× IPM ´Ù±â´É Tester) ¼º°øÆÇÁ¤
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2005.12.28. ÀÚº»±Ý 1¾ï ÁõÀÚ(Ãѳ³ÀÔÀÚº»±Ý 6¾ï)
2006.12.22 ÆÄ¿ö¹¦µâÀÇ Å×½ºÆ®ÀåÄ¡ ƯÇãµî·Ï(Á¦10-0663159È£)
2006.12.22 ŸÀֹ̹߻ý±â¸¦ °®´Â µðÁöÅÐ °Ë»çÀåºñ ƯÇãµî·Ï(Á¦10-0663158È£)
2007.04.23. Àδö´ëÇб³ »êÇÐÇù·Â ü°á - Àδö´ë »êÇÐÇù·Â´Ü
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 2007-06-15  (ÁÖ)¿¥¿£Æ¼   System S/W °³¹ß¾÷¹«  2007-06-30 °æ±â 5³â
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